工程师为您讲解电子线路信号测试之开尔文测试及开尔文测试座特点

发布网友发布时间：2024-10-24 00:26

共1个回答

热心网友时间：2024-10-28 01:25

电子线路信号测试中的开尔文测试是不可或缺的测量工具，它以四线法或开尔文测阻法著称。其原理是通过的电流引线和电压引线传输电流和测量电压，有效消除导线电阻对结果的干扰，确保测量的准确性和可靠性。在电力系统、电子设备制造与维修中，开尔文测试被广泛应用于电阻测量，如导线接触电阻、接地电阻和电流互感器比率的精确检测。

而针对芯片，芯片开尔文测试是一种测量芯片内部元件电阻、电容和电感等参数的精细测试。它通过四线法消除引脚电阻影响，确保测量的准确性。具体测量参数包括电阻值、温度系数、电容的电容值、损耗因素、电感的电感值、品质因数和自谐振频率等，并需要考虑测试频率以适应不同元件的特性。

鸿怡电子的IC开尔文测试座具备特定的性能特点，如采用接触的2pin测试端点，适应宽温范围(-55°~+175°)和相对湿度（≤85%），提供稳定的额定电流和极低的接触电阻，确保高绝缘性和耐电压性能。此外，其机械寿命长，能够承受多次测试，是工程师进行高质量电子元件测试的理想选择。

声明：本网页内容为用户发布，旨在传播知识，不代表本网认同其观点，若有侵权等问题请及时与本网联系，我们将在第一时间删除处理。
E-MAIL:11247931@qq.com